原標(biāo)題：如何將CoolMOS應(yīng)用于連續(xù)導(dǎo)通模式的圖騰柱功率因數(shù)校正電路

將CoolMOS應(yīng)用于連續(xù)導(dǎo)通模式（CCM）的圖騰柱功率因數(shù)校正（PFC）電路，需要關(guān)注幾個關(guān)鍵方面，包括電路設(shè)計、開關(guān)損耗優(yōu)化、以及可能的預(yù)充電電路等。以下是將CoolMOS應(yīng)用于此類電路的具體步驟和考慮因素：

1. 圖騰柱PFC電路基礎(chǔ)

圖騰柱PFC電路是一種高效的AC-DC轉(zhuǎn)換拓?fù)?，它消除了傳統(tǒng)PFC電路中的二極管橋，通過有源開關(guān)（如MOSFET）來控制電流的流向，從而實現(xiàn)高功率因數(shù)和低諧波失真。在CCM模式下，電感電流在整個周期內(nèi)都保持連續(xù)，MOSFET需要在電感電流降至零之前開通。

2. CoolMOS的選擇與特性

CoolMOS是一種高性能的MOSFET，以其低導(dǎo)通電阻和低開關(guān)損耗而著稱。在圖騰柱PFC電路中，選擇具有合適電壓和電流等級的CoolMOS至關(guān)重要。此外，還需要考慮其開關(guān)特性，如輸出電容（Coss）、反向恢復(fù)電荷等，這些特性將直接影響電路的效率和性能。

3. 電路設(shè)計與優(yōu)化

3.1 開關(guān)損耗優(yōu)化

• 降低硬切損耗：在圖騰柱PFC電路中，高頻橋臂在切換過程中可能產(chǎn)生硬切損耗。為了減少這種損耗，可以采用具有低Coss特性的CoolMOS，并通過優(yōu)化電路布局和PCB設(shè)計來降低寄生電感。

• 預(yù)充電電路：為克服硬切損耗和寄生二極管的反向恢復(fù)損耗，可以引入預(yù)充電電路。該電路可以在MOSFET通道開啟前將其預(yù)充至特定電壓，從而降低開關(guān)瞬間的損耗。預(yù)充電電路需要額外的器件（如高壓肖特基二極管和低壓MOSFET）以及電壓源來驅(qū)動。

3.2 控制器與驅(qū)動

• 選擇合適的PFC控制器，如安森美的NCP1681 PFC控制器，它支持圖騰柱CCM與多模式操作，并具備高效的電流檢測和電壓環(huán)路補償功能。

• 設(shè)計合適的驅(qū)動電路，以確保MOSFET能夠準(zhǔn)確、快速地開關(guān)。驅(qū)動電路需要考慮PWM信號的時序和電平匹配問題。

4. 布局與散熱

• PCB布局：優(yōu)化PCB布局以減少寄生電感和電容的影響。確保高頻信號路徑短且遠(yuǎn)離敏感元件。

• 散熱設(shè)計：CoolMOS在高頻開關(guān)過程中會產(chǎn)生熱量，因此需要進行合理的散熱設(shè)計?？梢允褂蒙崞鳌L(fēng)扇或熱管等散熱元件來降低MOSFET的工作溫度。

5. 調(diào)試與測試

• 在完成電路設(shè)計和布局后，進行詳細(xì)的調(diào)試和測試。測試內(nèi)容包括但不限于輸入電壓與電流波形、功率因數(shù)、效率以及開關(guān)損耗等。

• 根據(jù)測試結(jié)果對電路進行必要的調(diào)整和優(yōu)化，以確保其性能達(dá)到預(yù)期目標(biāo)。

結(jié)論

將CoolMOS應(yīng)用于連續(xù)導(dǎo)通模式的圖騰柱功率因數(shù)校正電路需要綜合考慮多個方面，包括電路設(shè)計、開關(guān)損耗優(yōu)化、控制器與驅(qū)動、布局與散熱以及調(diào)試與測試等。通過合理的選擇和配置，可以充分發(fā)揮CoolMOS的性能優(yōu)勢，實現(xiàn)高效的AC-DC轉(zhuǎn)換。