本發(fā)明涉及一種通過半導(dǎo)體分立器件特性曲線跟蹤儀器.半導(dǎo)體分立器件特性曲線跟蹤裝置,由上位機(jī),測試主機(jī),擴(kuò)展臺,治具四部分組成,所述測試主機(jī)里包含下位機(jī),機(jī)械手/探針臺驅(qū)動模塊,總線轉(zhuǎn)換模塊,數(shù)據(jù)總線模塊,AD/DA轉(zhuǎn)換模塊,功率放大器,繼電器陣列,所述的下位機(jī)里裝有自檢,自校準(zhǔn)程序,所述的擴(kuò)展臺擴(kuò)展所述功率放大器,采用16位并行AD/DA轉(zhuǎn)換模塊設(shè)計(jì),測試速度快,精度高;采用下位機(jī)控制,實(shí)現(xiàn)脫機(jī)運(yùn)行;采用多級開爾文技術(shù),系統(tǒng)穩(wěn)定性高,測試結(jié)果準(zhǔn)確;完整的自檢/自校準(zhǔn)能力;采用上位機(jī)顯示,直觀,好操作;可以連接機(jī)械手或探針臺,效率高;數(shù)據(jù)存儲在PC機(jī)里,讀寫方便.