原標(biāo)題：面對高速鏈路測試重重挑戰(zhàn)，輕松實(shí)現(xiàn)PCIe 5自動多路測試

面對高速鏈路測試的挑戰(zhàn)，特別是PCIe 5（即PCI Express第五代，數(shù)據(jù)傳輸速率可達(dá)32 GT/s）的自動多路測試，確實(shí)需要一系列精細(xì)的操作和配置。以下是一些關(guān)鍵步驟和考慮因素，以實(shí)現(xiàn)PCIe 5的自動多路測試：

一、測試挑戰(zhàn)

1. 多通路測試需求：PCI Express端口的通路寬度一般為x1、x4、x8和x16，需要對這些不同寬度的通路進(jìn)行發(fā)射機(jī)（Tx）和接收機(jī)（Rx）的測量，這給全自動測試環(huán)境帶來了挑戰(zhàn)。

2. 高速信號要求：PCIe 5的數(shù)據(jù)傳輸速率高達(dá)32 GT/s，對測試設(shè)備和測試方法提出了更高要求。

二、測試方法

1. 使用RF開關(guān)

• 目的：通過在測試通道中包括RF開關(guān)，可以在不過度改變被測設(shè)備（DUT）和測試設(shè)備電纜的情況下實(shí)現(xiàn)多路測試。

• 配置：

• 推薦使用Mini-Circuits的RF開關(guān)進(jìn)行Gen5多路測試，這些開關(guān)型號如ZTM2-8SP6T-40和ZT-8SP6T-40 4U/5U等，可以支持最多18條通路（PCIe最高一般是x16），也支持較低的通路數(shù)。

• 推薦使用相位匹配的電纜，在相鄰的40 GHz繼電器之間建立固定連接，以保持電氣路徑的一致性。

2. 測試設(shè)備連接

• 發(fā)射機(jī)（Tx）測試：

• 系統(tǒng)主機(jī)配置要求把一塊一致性測試負(fù)載電路板（CLB）插入DUT的CEM連接器中。

• 使用電纜從每條通路連接RF開關(guān)，然后將端接的開關(guān)矩陣連接到50 GHz示波器。

• 任意波形發(fā)生器（AFG）可以自動生成要求的突發(fā)信號，令DUT循環(huán)通過不同發(fā)射機(jī)測量使用的各種數(shù)據(jù)速率和碼型。

• 接收機(jī)（Rx）測試：

• PCIe Gen5器件接收機(jī)使用精細(xì)校準(zhǔn)的壓力眼圖信號進(jìn)行測試。

• 在TP3測試點(diǎn)校準(zhǔn)幅度、Tx均衡、隨機(jī)抖動和正弦曲線抖動時，需要直接連接BERT（如Anritsu MP1900A BERT PPG）和示波器。

• 在TP2P使用差模干擾（DMI）、共模干擾（CMI）和最后的壓力眼圖校準(zhǔn)串?dāng)_項(xiàng)。

3. 電纜和連接器選擇

• 電纜長度：建議在DUT和RF開關(guān)之間使用1米2.92mm電纜，在RF開關(guān)和示波器輸入之間使用0.5米2.92mm電纜。

• 匹配范圍：通道中所有電纜、繼電器和PCB匹配范圍都應(yīng)落在正負(fù)信號路徑+/- 1ps范圍內(nèi)。

4. 損耗校正

• 通道損耗：應(yīng)執(zhí)行測試夾具表征，包括RF開關(guān)?？梢赃x擇一個損耗較低的濾波器文件，以實(shí)現(xiàn)最壞情況插件損耗或系統(tǒng)損耗。

• 反嵌技術(shù)：可以使用基于散射參數(shù)（S參數(shù)）的反嵌技術(shù)去掉RF開關(guān)插損的影響，但需要注意噪聲放大的影響。

三、注意事項(xiàng)

1. 避免串聯(lián)多個繼電器：由于插損問題，不建議串聯(lián)兩個以上的繼電器進(jìn)行32 GT/s Tx測試。

2. 保持電氣路徑一致性：使用相位匹配的電纜，以確保通道到通道間只存在小的電氣差異。

3. 軟件支持：利用TekExpress等軟件執(zhí)行自動通道到通道時延校正，提高測試效率。

四、總結(jié)

實(shí)現(xiàn)PCIe 5的自動多路測試需要精細(xì)的測試和配置過程，包括使用RF開關(guān)、選擇合適的測試設(shè)備和電纜、執(zhí)行損耗校正等。通過這些步驟，可以確保在不過度改變測試環(huán)境的情況下，全面表征高速鏈路的性能。

請注意，以上信息基于當(dāng)前可用的技術(shù)和測試方法，并可能隨著技術(shù)的發(fā)展而有所變化。在實(shí)際應(yīng)用中，建議參考最新的測試標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)備手冊。