電容器C4和C5彼此串聯(lián)放置無浮動(dòng)節(jié)點(diǎn)


作者: 約翰·鄧恩
下面的示意圖是 LinkedIn 群組的屏幕截圖。當(dāng)我看到它時(shí),我的腦海里響起了警鐘(圖1)。

圖 1在 LinkedIn 群組中發(fā)現(xiàn)的建議應(yīng)用筆記圖,其中 C4 和 C5 之間存在可能導(dǎo)致電壓擊穿的浮動(dòng)節(jié)點(diǎn)。
電容器 C4 和 C5 彼此串聯(lián)放置,以便它們的公共節(jié)點(diǎn)沒有到達(dá)任何地方的直流路徑。當(dāng)我從事一些航天器項(xiàng)目時(shí),這絕對是被禁止的事情,因?yàn)槿魏蜗襁@樣的浮動(dòng)節(jié)點(diǎn)都可能漂移到不確定的高電壓并導(dǎo)致電壓擊穿。
即使在地球環(huán)境中,這也可能是一個(gè)問題。想象一下在雷暴環(huán)境中使用或僅僅運(yùn)輸或裝運(yùn)某物。弗蘭肯斯坦博士的閃電可能會(huì)造成一些真正的傷害。
我不知道為什么在上面的原理圖中,C4 和 C5 的串聯(lián)對不是簡單地制成單個(gè) 0.5 pF 電容。
讓某些東西漂浮的基本缺點(diǎn)之前已經(jīng)在“設(shè)計(jì)預(yù)防措施:不讓任何東西漂浮”中討論過。
看來有人沒有收到消息。
John Dunn是一名電子顧問,畢業(yè)于布魯克林理工學(xué)院 (BSEE) 和紐約大學(xué) (MSEE)。
責(zé)任編輯:David
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