本發(fā)明屬于射頻測試技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種射頻測試插座及測試方法.射頻測試插座包括:絕緣殼體;射頻端子,設(shè)于絕緣殼體;第一信號傳導(dǎo)件,設(shè)于絕緣殼體內(nèi),與射頻端子連接;第二信號傳導(dǎo)件,設(shè)于絕緣殼體內(nèi),與射頻端子連接;射頻測試插座還包括:絕緣開關(guān),活動連接于絕緣殼體;當(dāng)絕緣開關(guān)活動至第一位置,所述絕緣開關(guān)驅(qū)動第一信號傳導(dǎo)件以斷開第一信號傳導(dǎo)件與射頻端子的連接;當(dāng)絕緣開關(guān)活動至第二位置,所述絕緣開關(guān)驅(qū)動第二信號傳導(dǎo)件以斷開第二信號傳導(dǎo)件與射頻端子的連接.本發(fā)明的射頻測試插座,通過絕緣開關(guān)選擇所要導(dǎo)通的線路方向,實現(xiàn)射頻線路的雙向測試;兼容常用的Ipex連接器,無需特制的連接器和線纜,方便應(yīng)用.