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晶片檢測設(shè)備
晶片檢測設(shè)備
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一種自動晶片檢測方法,首先提供第一組數(shù)據(jù)與第二組數(shù)據(jù).接著,提供一自動程序,是提供一視介面,使用者只需修改其中簡單的幾個指令,即可方便檢測各種不同的元件特性.執(zhí)行此自動程序,載入第一組數(shù)據(jù),并進(jìn)行下列選擇步驟:選擇一檢測模件,其以電性連接與控制晶片上的多個測試鍵;再選擇欲檢測的元件特性,此時自動程序載入第二組數(shù)據(jù).最后,自動程序?qū)⑸鲜鲞x擇結(jié)果載入一工作站,然后進(jìn)行并完成元件特性的檢測動作.