您現(xiàn)在的位置： 首頁(yè) > 標(biāo)簽 > 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
相關(guān)文章 : 0篇 瀏覽 : 次

ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據(jù)客戶的測(cè)試要求、圖紙及參考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開(kāi)發(fā)平臺(tái)，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)各類自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。

如何使用SSR(AQY2C1R3PZ和AQY221N2TY PhotoMOS繼電器)打造可靠、快速切換、低損耗的半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
如何使用SSR(AQY2C1R3PZ和AQY221N2TY PhotoMOS繼電...
　　作者：Jens Wallmann　　集成電路(IC)的需求比以往任何時(shí)候都更大，因?yàn)樗鼈兛梢越档陀布_(kāi)發(fā)成本，促進(jìn)電子設(shè)備的小型化，并提供廣泛的功能。為了確保大批量生產(chǎn)的質(zhì)量，半導(dǎo)體制造商需要可靠且緊湊的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備 (ATE)，該設(shè)備能夠以低信號(hào)電平和高信號(hào)電平以及最小損耗快速切換高頻交流和直流電流。　　基于光伏 MOSFET ......
半導(dǎo)體自... Phot... 固態(tài)繼電...
2024-01-26
13