STIL的目的是提供一種公共語(yǔ)言，用來(lái)表示從集成電路模擬所產(chǎn)生的測(cè)試碼和波形。語(yǔ)言所要表示的數(shù)據(jù)是被測(cè)電路的波形，而不是針對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)的專(zhuān)門(mén)硬件。一般地，模擬數(shù)據(jù)向ATE環(huán)境轉(zhuǎn)換是通過(guò)ATE系統(tǒng)私有的語(yǔ)言，為此也開(kāi)發(fā)了一些標(biāo)準(zhǔn)語(yǔ)言，如EDIF，WAVES，但尚不能滿(mǎn)足商業(yè)測(cè)試界的需求和認(rèn)可。信號(hào)值變化轉(zhuǎn)儲(chǔ)(VCD)格式是獲取模擬輸出的一種典型方法，將被模擬電路每條引線(xiàn)上的信號(hào)值變化按時(shí)間順序記錄下來(lái)，這是取得波形圖的一個(gè)好方法，但用于產(chǎn)生測(cè)試程序有局限性。如果要讓VCD格式在ATE系統(tǒng)上實(shí)際使用，需要很貴而又費(fèi)時(shí)的轉(zhuǎn)換軟件，且轉(zhuǎn)換后一般會(huì)失去對(duì)原始數(shù)據(jù)引用的能力，很難將測(cè)試失效情況與模擬過(guò)程聯(lián)系起來(lái)。