原標(biāo)題：了解最新USB4標(biāo)準(zhǔn)測試要求和挑戰(zhàn)

USB4標(biāo)準(zhǔn)帶來了許多新的測試要求，同時也伴隨著相應(yīng)的測試挑戰(zhàn)。以下是對最新USB4標(biāo)準(zhǔn)測試要求和挑戰(zhàn)的詳細(xì)解析：

一、發(fā)射機測試要求與挑戰(zhàn)

1. 發(fā)射機預(yù)置校準(zhǔn)

• 要求：這是發(fā)射機測試的前提步驟，需要捕獲全部16個預(yù)置波形，并測量數(shù)據(jù)確定性抖動（DDJ）。

• 挑戰(zhàn)：在USB4中，接收機會在通路初始化過程中請求改變預(yù)置值，因此被測參數(shù)可能并不會使用最優(yōu)的預(yù)置值。所以，最好先驗證和測量所有其他預(yù)置值，然后再執(zhí)行發(fā)射機測試。

2. 發(fā)射機均衡測試

• 要求：確保發(fā)射機均衡落在規(guī)范的極限范圍內(nèi)。最新USB4方法要求每個預(yù)置值3個波形，而PCIe Gen 3/4則要求一個波形。

• 挑戰(zhàn)：由于需要測試多個預(yù)置值和波形，因此測試過程耗時較長。

二、接收機測試要求與挑戰(zhàn)

1. 接收機校準(zhǔn)

• 要求：USB4必需對全部5個SJ（Spread Spectrum Clocking，擴頻時鐘）頻率執(zhí)行接收機校準(zhǔn)。這與USB 3.2接收機校準(zhǔn)相比有很大變化，USB 3.2只在100 MHz SJ頻率執(zhí)行校準(zhǔn)。

• 挑戰(zhàn)：USB4有兩種測試情況，需要進行自動調(diào)諧或精調(diào)來滿足壓力眼圖或總抖動目標(biāo)。這包括低插損（短通道）和最大插損（長通道）兩種情況，測試過程同樣耗時較長。

2. 抖動容差測試

• 要求：掃描SJ或幅度，找到邊界或開始出現(xiàn)誤碼的位置。為了執(zhí)行這項測試，需要先使用邊帶通道初始化鏈路，然后開始BER（Bit Error Rate，誤碼率）測試。

• 挑戰(zhàn)：USB4采用機載誤碼計數(shù)器，而不是BERT（Bit Error Rate Tester，誤碼率測試儀）上的傳統(tǒng)誤碼檢測器。因此，測試過程涉及到多個步驟，需要一直監(jiān)測誤碼。

三、其他測試要求和挑戰(zhàn)

除了發(fā)射機和接收機測試外，USB4標(biāo)準(zhǔn)還有其他一些測試要求和挑戰(zhàn)，如：

• 協(xié)議一致性測試：驗證USB4設(shè)備是否符合USB4協(xié)議規(guī)范。

• 兼容性測試：測試USB4設(shè)備與其他USB版本（如USB 3.2、USB 3.1等）的兼容性。

• 電源管理測試：驗證USB4設(shè)備的電源管理功能是否正常工作。

這些測試要求和挑戰(zhàn)對于USB4設(shè)備的開發(fā)和生產(chǎn)來說至關(guān)重要。為了確保設(shè)備的質(zhì)量和性能，制造商需要采用先進的測試設(shè)備和測試方法，并嚴(yán)格按照USB4標(biāo)準(zhǔn)進行測試。

綜上所述，最新USB4標(biāo)準(zhǔn)帶來了許多新的測試要求和挑戰(zhàn)。為了應(yīng)對這些挑戰(zhàn)，制造商需要不斷研發(fā)和改進測試設(shè)備和方法，以確保USB4設(shè)備的性能和質(zhì)量。同時，也需要加強與其他制造商和測試機構(gòu)的合作與交流，共同推動USB4技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用。