原標題：賽默飛Talos F200E 掃描透射電子顯微鏡提供原子級成像和快速EDS分析

賽默飛Talos F200E掃描透射電子顯微鏡（STEM）是一款高性能的顯微鏡，它提供了原子級成像和快速的能量色散X射線能譜（EDS）分析功能。以下是對該顯微鏡的詳細介紹：

一、產(chǎn)品特點

1. 原子級成像：

• Talos F200E STEM能夠提供具有極小失真的高分辨率STEM和TEM（透射電子顯微鏡）成像。

• 其分辨率極高，STEM分辨率≤0.16nm，TEM信息限度≤0.12nm，TEM線分辨率≤0.10nm，使得用戶能夠觀察到原子級別的細節(jié)。

2. 快速EDS分析：

• 該顯微鏡配備了先進的EDS系統(tǒng)，能夠進行快速的化學成分分析。

• 與先前的Talos模型相比，Talos F200E提供了>1.5倍的快速EDS分析速度。

• 高通量的EDS功能使得用戶能夠在更短的時間內(nèi)獲得準確的化學成分信息。

3. 高穩(wěn)定性與重復(fù)性：

• Talos F200E STEM具有自動校準的屬性，能夠控制圖像畸變≤1%，確保用戶獲得快速、可靠和可重復(fù)的結(jié)果。

• 這種高穩(wěn)定性和重復(fù)性對于半導(dǎo)體和其他微電子設(shè)備的分析至關(guān)重要。

4. 易用性與成本效益：

• Talos F200E STEM設(shè)計得既易于使用又具有成本效益，幫助半導(dǎo)體實驗室實現(xiàn)快速的樣品表征。

• 它支持多信號檢測和對比度優(yōu)化的STEM成像，以及標本-載物臺同步實時TEM圖像旋轉(zhuǎn)等功能，使得操作更加便捷。

二、應(yīng)用領(lǐng)域

Talos F200E STEM專為多種半導(dǎo)體缺陷分析和研究應(yīng)用而設(shè)計，適用于可重復(fù)、高容量的多種半導(dǎo)體和微電子設(shè)備分析。它支持快節(jié)奏的工藝開發(fā)和良率提升，使得半導(dǎo)體分析實驗室能夠顯著應(yīng)變。此外，它還可以用于材料科學、納米技術(shù)、生物醫(yī)學等領(lǐng)域的研究和分析。

三、技術(shù)規(guī)格

• 加速電壓：200kV

• 探測器：配置有Dual-X EDS探測器，提供更高的靈敏度和分析速度。

• 相機：具有低失真的4k×4k Ceta-M相機，提供高分辨率成像。

• 物鏡：X-FEG物鏡，具有卓越的成像性能和靈活性。

• 軟件：配備有直觀的Velox軟件用戶界面，使得操作更加簡單方便。

綜上所述，賽默飛Talos F200E掃描透射電子顯微鏡是一款高性能、易用且具有成本效益的顯微鏡，它提供了原子級成像和快速的EDS分析功能，適用于多種半導(dǎo)體和微電子設(shè)備的研究和分析。