SMART ZDIMM內(nèi)存模塊的介紹、特性、及應(yīng)用


ZDIMM內(nèi)存模塊經(jīng)過嚴(yán)格測試,可根除90%以上的內(nèi)存可靠性故障。zdimm (Zefr 內(nèi)存模塊)提供最大的應(yīng)用程序正常運(yùn)行時(shí)間和優(yōu)化內(nèi)存子系統(tǒng)的可靠性。
SMART模塊化技術(shù)ZDIMM內(nèi)存模塊采用Zefr專有篩選工藝(零故障率)。zdimm主要適用于數(shù)據(jù)中心、HPC (high-performance computing)平臺等運(yùn)行大內(nèi)存、高可靠性應(yīng)用的計(jì)算環(huán)境。
特性
全面嚴(yán)格的5部分檢測流程;溫度、速度、負(fù)載、系統(tǒng)和時(shí)間
經(jīng)過驗(yàn)證的長期可靠性,DPPM為200或更低,而行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為3,000 DPPM至5,000 DPPM(百萬分率缺陷)
Zefr測試模擬最艱苦的用例,生成具有最高可靠性水平的模塊
32GB ~ 128GB, ddr5 ~ 5600; 16GB ~ 128GB, DDR4 3200
應(yīng)用程序
內(nèi)存數(shù)據(jù)庫(IMDB)
人工智能與機(jī)器學(xué)習(xí)(LLMs,圖像識別)
高性能計(jì)算(金融科技、科學(xué)建模)
監(jiān)測
責(zé)任編輯:David
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