摘要： 該模塊簡化了阻抗測量系統(tǒng)的開發(fā)。

ADI ADMX2001B精密阻抗分析儀測量模塊簡化了阻抗測量系統(tǒng)的開發(fā)或可用于增強(qiáng)現(xiàn)有測試平臺的功能。ADMX2001B采用高性能混合信號和處理算法，可以測量小至0.1fF的電容變化和高達(dá)1G歐姆的電阻值，通常需要測試半導(dǎo)體器件、電子元件和傳感器。此外，內(nèi)置的測量算法使Analog Devices Inc.。ADMX2001B以各種格式提供完全校準(zhǔn)的復(fù)雜阻抗或?qū)Ъ{測量結(jié)果，包括電阻、電容和電感的并聯(lián)和串聯(lián)組合。

特性

• 從0.2Hz到10MHz的復(fù)雜阻抗測量

• 高吞吐量

• 2.7ms測量時(shí)間

• 0.05%基本相對精度

• 寬測量范圍

• 阻力從100μ歐姆到1G歐姆

• 電容從100aF到10F

• 電感從10pH到100H

• 可編程測試信號

• 16位幅度調(diào)節(jié)，最高達(dá)2.4V

• 頻率分辨率為0.2Hz

• 16位直流偏置設(shè)置±2.4V

• 直流電阻測量

• 18阻抗測量格式為C、R、L、Z、Y

• 自動(dòng)多點(diǎn)和參數(shù)掃描

• 校準(zhǔn)和夾具補(bǔ)償功能

• 用于測量可追溯性的自動(dòng)校準(zhǔn)程序

• 校正系數(shù)存儲在非易失性存儲器中

• 補(bǔ)償消除了夾具寄生的影響

應(yīng)用程序

• 自動(dòng)化測試設(shè)備

• 半導(dǎo)體特性

• 晶片驗(yàn)收試驗(yàn)

• 電阻抗譜學(xué)

• 阻抗網(wǎng)絡(luò)分析

• 電池測試

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